(NdIAGNOSTIKA I KONTROLX KA^ESTWA IZDELIJ CIFROWOJ MIKRO\LEKTRONIKI (B/s - (NdANILIN(B, (NnIKOLAJ sEMENOWI^s; (NnUROW(B, (N`RIJ lXWOWI^s ((NmOSKWA (B:s (NiZD(B-(NWO STANDARTOW(B,s, 1991)
(NbIBLIOGR(B.: (NS(B. 173s
Keywords: (NmIKRO\LEKTRONNAQ APPARATURAs -- (NtEHNI^ESKIJ KONTROLXs