Основы теории и общие методы патентной экспертизы / Г. Н. Анисов, И. И. Кичкин, Н. М. Мадатов, Э. П. Скорняков; Центр. ин-т повышения квалификации руководящих работников и специалистов народного хозяйства в области патентной работы; Под ред. В. Н. Бакастова.
Material type:
Incomplete contents:
Вып. 2 (1973, 40 с.)
Item type | Current library | Collection | Call number | Vol info | Status | Notes | Barcode | |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
Fundamental Scientific Library | General | PII/318816 (Browse shelf(Opens below)) | Available | 30 Days Loan | FL0232082 | ||
![]() |
Fundamental Scientific Library | General | PII/313795 (Browse shelf(Opens below)) | Вып. 2 | Available | 30 Days Loan | FL0217669 |
Вып. 2 (1973, 40 с.)
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.