ՀՀ Գիտությունների ազգային ակադեմիայի հիմնարար գիտական գրադարան = Fundamental Scientific Library of NAS RAИсследование влияния вторичного пробоя на надежность транзисторных ключей схем выборки ЗУ : Доклад на конференции молодых специалистов и ученых Ин-та точной механики и вычисл. техники АН СССР им. С. А. Лебедева /
Абрукин, Я. А.
Исследование влияния вторичного пробоя на надежность транзисторных ключей схем выборки ЗУ : Доклад на конференции молодых специалистов и ученых Ин-та точной механики и вычисл. техники АН СССР им. С. А. Лебедева / Я.А. Абрукин, Г.В. Кристовский; АН СССР. Ин-т точной механики и вычисл. техники им. С.Л. Лебедева. - Москва : Б. и., 1976. - 17 с. : ил.
Библиогр.: с. 17
Запоминающие устройства
Исследование влияния вторичного пробоя на надежность транзисторных ключей схем выборки ЗУ : Доклад на конференции молодых специалистов и ученых Ин-та точной механики и вычисл. техники АН СССР им. С. А. Лебедева / Я.А. Абрукин, Г.В. Кристовский; АН СССР. Ин-т точной механики и вычисл. техники им. С.Л. Лебедева. - Москва : Б. и., 1976. - 17 с. : ил.
Библиогр.: с. 17
Запоминающие устройства
All site content, except where otherwise noted, is licensed under a